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首页 > 培训课程 > IT/技术培训 > 电子产品白盒测试北京2021年3月线下及线上培训班更新时间：2020-12-22T10:14:30

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电子产品白盒测试北京2021年3月线下及线上培训班已截止报名
推荐参加：研发项目管理 2024年深圳12月26-27日

课程时间： 2020-12-22 09:00至 2020-12-22 18:00结束

课程地点：北京详细地址会前通知周边酒店预订

主办单位：中科院计算所职业培训中心

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会议介绍
会议内容主办方介绍

电子产品白盒测试北京2021年3月线下及线上培训班宣传图

关于举办“电子产品白盒测试”培训的通知

各有关单位：

中国科学院计算技术研究所是国家专门的计算技术研究机构，同时也是中国信息化建设和人工智能建设的重要支撑单位，中科院计算所培训中心是致力于高端IT类人才培养及企业内训的专业培训机构。中心凭借科学院的强大师资力量，在总结多年大型软件开发和组织经验的基础上，自主研发出一整套课程体系，其目的是希望能够切实帮助中国软件企业培养高级软件技术人才，提升整体研发能力，迄今为止已先后为国家培养了数万名计算机专业人员，并先后为数千家大型国内外企业进行过专门的定制培训服务。

白盒测试的核心是波形诊断、器件参数分析、器件失效机理激发等内容，通过对具体深入细节的测试测量，与预期标准参数、波形对比，发现其中的隐患。

本课程着重从被测对象的隐患点、外部应力、过渡过程、器件失效机理、工艺隐患等几个方面展开测试用例设计，既讲解了测试用例的思考分析方法，又深入展开了细节的具体问题点分析。通过本课程的学习，可以快速积累测试经验，掌握测试项目的选择和测试用例的设计方法，使产品通过测试，实现产品可靠性短期内的大幅提升。

一、针对群体

测试工程师、系统工程师、项目经理、技术部经理、研发高管等。

四、时间、形式

时间：2021年3月30日-3月31日

线下：北京

线上：直播平台（全国）

五、证书

培训结束，颁发中科院计算所职业培训中心“电子产品白盒测试”结业证书。

中科院计算所职业培训中心

会议日程（最终日程以会议现场为准）

三、培训内容

测试基础

1.1、研发样机测试与中试样机测试的区别

1.2、原理验证和一致性验证的判据区别

1.3、测试的工具方法类型（模拟测试、仿真、工程计算、规范审查）

1.4、基于单一故障的接口故障分析及测试模拟方法

1.5、测试覆盖率与MECE方法

2、波形诊断

2.1、电路常见异常波形的种类

2.2、回勾波形的成因与应对措施

2.3、过冲波形的成因与应对措施

2.4、振荡波形的成因与应对措施

2.5、平台波形的成因与应对措施

2.6、塌陷波形的成因与应对措施

2.7、鼓包波形的成因与应对措施

3、参数计算与审查

3.1、WCCA参数分析

3.2、容差计算

3.3、蒙特卡洛分析方法

3.4、降额审查

3.5、热测试与计算

3.6、常用各类电路里器件参数计算审查（电容、电感、磁珠、电阻、开关管等）

4、一致性测试及测试数据分析

4.1、批次数据分析

4.2、正态分布的工程意义

4.3、各种异化正态分布曲线的含义与机理

5、单一故障分析与模拟测试

5.1、设计调查表

5.2、用户现场环境条件（环境对产品零部件的失效影响及模拟测试方法）

5.3、人机接口条件（操作者认知与习惯的潜在隐患防护）

5.4、关联设备的相互影响（能量与信号输入输出的相互潜在影响及模拟测试方法）

6、基于失效机理的应力测试

6.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力

6.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

7、软件测试

7.1、路径覆盖的测试用例设计方法

7.2、数据覆盖的测试用例设计方法

7.3、黑盒测试与白盒测试的测试用例设计方法

8、器件质量控制测试

8.1、光学检测

8.2、参数测试与统计分析

8.3、IV曲线测试

9、标准符合性测试

9.1、通用标准测试项目

9.2、安规（通用安规要求、安规测试判据、气、液、电混合布局安规测试用例）

9.3、电磁兼容EMC测试及故障分析

9.4、产品内部不同类型模块之间的相互影响检查与测试

10、基于失效机理的应力测试

10.1、常用器件、部件零件的失效机理和失效诱发应力

10.2、针对失效机理的模拟测试用例设计

11、应力变化率测试

11.1、环境应力变化率的影响

11.2、负载应力变化率的影响

11.3、能量及信号输入变化率的影响

11.4、过渡过程应力对设备故障的影响

12、组合应力测试

现场多应力组合示例

13、器件失效特征规律和故障原因分析方法

13.1、电流应力与电压应力的故障特征区别

13.2、突发浪涌应力与持续过电应力的故障特征区别

会议嘉宾（最终出席嘉宾以会议现场为准）

二、师资：武老师

专长于电子产品可靠性设计与测试方法的研究，曾任职于航天、医疗电子等行业，在电子系统可靠性测试方法、失效机理、设计规范审查等方面具有多年的研究。曾为汽车、消费电子、航天、仪器仪表、电力电子、医疗电子、铁路交通、印刷等多行业设备研发制造厂商提供相关技术服务和培训。对测试方法、测试仪器、测试工装、测试标准具有深入的研究和丰富的经验。