第七届国际测试仪器及应用技术大会已截止报名

会议时间： 2016-05-12 09:30至 2016-05-12 15:30结束

会议地点：北京中国国际展览中心(老馆) 朝阳区北三环东路6号周边酒店预订

会议规模：300人

主办单位：《电子产品世界》杂志社

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会议通知

第七届国际测试仪器及应用技术大会将于2016年5月12日在北京中国国际展览中心(老馆)召开。

国际测试仪器应用技术大会主题方向：

1、高频无线信号的捕获与分析；

2、LTE及MIMO信号的测试方案；

3、毫米波微波信号的特点及测试技巧；

4、高可靠性的测试系统方案和测试技巧；

5、复杂自动化测试的架设和应用；

6、高频无线信号的捕获和分析；

部分演讲内容：

1、新时代，新视界，是德科技引领军工电子测试新趋势；

2、R&S新一代脉冲相位噪声测试方法；

3、军用测试测量技术的发展与应用；

4、直流电源输出阻抗和负载输入阻抗测量方法；

5、频率标准和时间间隔校准测量方法。

会议名称：第七届国际测试仪器及应用技术大会

会议时间：2016年5月12日

会议地点：北京中国国际展览中心(老馆)

主办方：《电子产品世界》杂志社

介绍：　由著名的美国IDG集团和中国科技信息研究所共同创办的《电子产品世界》是一本在中国积累了十八年成功媒体运作经验的一流电子杂志。每个月中国电子业的近十万工程师从《电子产品世界》上得到了丰富、及时、全面的电子技术和市场等方面的信息，他们有很多人甚至从大学时期开始就受到《电子产品世界》杂志的积极影响，在日后的工作中《电子产品世界》成为他们不可或缺的重要信息来源。